APRE激光干涉仪
分类: 光学面形检测
发布时间: 2017-05-14 21:10
2K╳2K像素分辨率,极速相移动态及载波动态技术,超低的回程误差和平顶波前技术;
可选配SCI技术测试薄片元件的正反表面波形和厚度、平行度等信息;
口径50mm/100mm/150mm等;
可选配波长调谐激光器。
可选配SCI技术测试薄片元件的正反表面波形和厚度、平行度等信息;
口径50mm/100mm/150mm等;
可选配波长调谐激光器。
类型
菲索型干涉仪
测试能力
测量面形和透射波前
测试技术
抗振相移干涉
抗振载波干涉
对准系统
2点法对准(十字窗口),校准视场2°
输出光直径
4 inch (102 mm)
光学镜头直径
4.25 in (108 mm)
激光光源
稳定 633 nm 氦氖激光
~1mW 激光强度, 可达更高
激光频率稳定性
<0.0001nm
相干长度
>100 m
偏振
圆偏振
相机分辨率
2044 X 2044
最短曝光时间
9 us
数位
12 bits
图像分辨率
100 μm 全视场 (检测器极限)
条纹分辨率
680 载波条纹,1022相移条纹
图像失真
<0.1% 全聚焦范围
焦距
±2 米
电脑及软件
高性能PC, 64位Windows操作系统,REVEALTM软件
安装方式
水平 或垂直
附件
兼容业内标准4英寸镜头